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颖崴科技股份有限公司-超导测试座

封装测试

超导测试座

超导测试座是为因应接触阻抗敏感测试需求而开发的次世代产品,能提供极佳的电气接触性,同时也避免对芯片锡球造成损伤。此架构能大幅度提升探针使用寿命,减少清洁频率而达到最佳稼动率。

Patent NO. TWI862047;TWI862191;CN20570508U

同轴式弹簧针测试座
同轴式弹簧针测试座
同轴式弹簧针测试座
同轴式弹簧针测试座

详细资讯

规格

  Elastomer Spring Probe HyperSocketTM
Travel
(mm)
0.2 ~ 0.3 0.6 ~ 1.0 0.6 ~ 1.0
Contact Resistance
(mΩ) @ Recom. Travel
< 50 < 60 25%↓
Contact Resistance
(mΩ) @ 0.15mm
< 50 < 70 50%↓
Force
(g) @ Recom. Travel
40 ~ 85 10 ~ 35 10 ~ 35
Current Capacity
(A)
2.4 3 ~ 3.5 5 ~ 6
Applicable pitch range : 0.4~1.27mm

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