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穎崴科技股份有限公司-超導測試座

封裝測試

超導測試座

超導測試座是為因應接觸阻抗敏感測試需求而開發的次世代產品,能提供極佳的電氣接觸性,同時也避免對芯片錫球造成損傷。此架構能大幅度提升探針使用壽命,減少清潔頻率而達到最佳稼動率。

Patent NO. TWI862047;TWI862191;CN20570508U

同軸式彈簧針測試座
同軸式彈簧針測試座
同軸式彈簧針測試座
同軸式彈簧針測試座

詳細資訊

規格

  Elastomer Spring Probe HyperSocketTM
Travel
(mm)
0.2 ~ 0.3 0.6 ~ 1.0 0.6 ~ 1.0
Contact Resistance
(mΩ) @ Recom. Travel
< 50 < 60 25%↓
Contact Resistance
(mΩ) @ 0.15mm
< 50 < 70 50%↓
Force
(g) @ Recom. Travel
40 ~ 85 10 ~ 35 10 ~ 35
Current Capacity
(A)
2.4 3 ~ 3.5 5 ~ 6
Applicable pitch range : 0.4~1.27mm

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